质量歧视

质量歧视是针对质谱仪而言，测量值可能会因为轻离子或重离子的损失而“偏离”真实值，这种现象被称为“质量歧视”。

内容介绍

质量歧视是针对质谱仪而言的。测量值可能会因为轻离子或重离子的损失而“偏离”真实值，这种现象被称为“质量歧视”。对于不同类型的质谱，对应的检测质量范围是不一样的。即使是同一台仪器，对不同质量的同一类样品其响应也是不一样的，也就是说，同种结构的样品，分子量不一样，有的能做出来，有的就可能做不出来，即使能做出来，效果也不好。因为，它对应的质量范围被鄙视了，不灵敏了。

校正方法

ICP-MS质量歧视的校正公式有3种形式:

线性校正:　Kline=1+(M2-M1)ε                  (1)

幂校正:　Kpow =(1+ε)(M2-M1)                  (2)

指数校正:Kexp=(M2/M1)ε                          (3)

其中K是质量歧视校正因子，它是真实值与测量值的比值；M1，M2为测量的同位素的质量数；ε为单位质量数的质量偏差。公式（1）一般用于对ICP-QMS的测量结果进行校正，公式（2）一般用于对DF-ICPMS的测量结果进行校正，公式（3）则是被用来对MC-ICP-MS的测量值进行校正。在MC-ICP-MS的质量歧视校正中常使用单位质量偏倚因子β（mass  bias）代表ε，它可以通过公式（4）求得。

β=ln(Rtrue/Rmeasured)/ln(M2/M1)        （4）